振幅・位相誤差により各チャネルが意図した複素重みで加算されず、ビーム方向、相干利得、サイドローブ、形状、ヌル深度が変化します。影響は開口内の位置、誤差相関、指令ビーム、素子パターン、周波数、校正方式で異なり、単一チャネルの代表値では証明できません。
製造ばらつき、温度勾配、周波数傾斜、量子化、LO／クロック偏差、相互結合、電力依存ドリフト、校正残差を予算化し、ハードウェア要求と方向図解析で同じRMS・最悪値・統計仮定を使います。校正基準面で制御範囲、分解能、単調性、セトリング、再現性も規定します。
室温中心周波数だけ、標称補正で制御範囲を消費する、故障／ドリフトチャネルを観測できない場合は不採用です。量産では校正前後のチャネル生データと、帯域端、走査限界、温度コーナ、故障状態の代表方向図を保存します。